日本株式会社日立高新技术科学专利技术

日本株式会社日立高新技术科学共有170项专利

  • 提供偏振光图像的偏振光图像获取装置和热分析装置。偏振光图像获取装置安装于热分析装置,热分析装置具备一对试样容器和加热炉,加热炉具有窗或开口部,经由该窗或开口部至少能够观察测定试样,该偏振光图像获取装置具有:安装部;光源;偏振器,其构成偏...
  • 提供色谱仪的数据处理方法、数据处理装置以及色谱仪,难以受到噪声的影响且能够进行更恰当的波峰检测。色谱仪的数据处理方法具备:暂定基线决定工序(S1),基于比暂定波峰时刻(T<subgt;t</subgt;)靠前方和后方的非波峰...
  • 提供能更高效地在短时间内实施大量检查的X射线分析装置和X射线分析方法。具有:试样载台(5),载置试样(S);X射线源(2),对试样载台上的照射点(P)照射一次X射线(X1);X射线检测器(3),检测从被照射一次X射线的试样放射的二次X射...
  • 提供流动试样用试样盒、荧光X射线分析装置以及方法。在石油等流动试样的荧光X射线分析中使用的流动试样用试样盒中,实现能够将流动试样的厚度控制为恒定的流动试样用试样池。具备:试样盒外框(107),其在两端具有开口部;下部窗口构件(104),...
  • 本发明提供液相色谱仪装置及其控制方法,提高使用具备自动采样器的液相色谱仪进行分析时的用户的便利性。能够通过多个方法中的任意方法对试样进行分析的液相色谱仪装置具有:输送部,其输送收容作为分析对象的试样的小瓶,并具有能够分配小瓶的多个通道;...
  • 本发明提供色谱仪的数据处理装置
  • 提供一种X射线检查装置以及X射线检查方法,即使是有可能产生翘曲、挠曲、起伏的试样,也能够准确地进行异物检查。具备:X射线源(2),其对试样(S)照射X射线(X1);X射线检测部(3),其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧,检测透过了试...
  • 提供X射线检查装置以及X射线检查方法,即使是具有正极材料的涂布部和未涂布部的试样,也能够在相同的条件下同时对双方的部分进行异物检查。具备:X射线源(2),其对试样(S)照射X射线(X1);X射线检测部(3),其相对于试样设置于与X射线源...
  • 本发明提供偏振光图像取得装置,该偏振光图像取得装置能取得热分析装置内的测定试样或参照试样的偏振光图像。偏振光图像取得装置安装于热分析装置,该热分析装置具备分别收纳测定试样和参照试样的一对试样容器和从外侧包围试样容器的加热炉,能经由加热炉...
  • 本发明涉及一种氨基酸分析方法和液相色谱装置,在该氨基酸分析方法和液相色谱装置中实现苏氨酸、丝氨酸、甘氨酸和丙氨酸的分离性能的提高。该氨基酸分析方法是使用具备阳离子交换柱的液相色谱装置对氨基酸进行分析的方法,其具备使含有作为氨基酸的苏氨酸...
  • 本发明提供液相色谱仪,在液相色谱仪中,在分离工序后使分离柱迅速降温,实现分析时间的缩短。液相色谱仪具备送液部、试样注入部、分离柱、将分离柱的温度升温至第1温度的第1温度调整装置、检测器、设置于分离柱的上游的将流动相的温度调整为比第1温度...
  • 本发明提供扫描型探针显微镜,其使探针与试样表面接触,利用所述探针间歇地扫描所述试样表面,其具有:悬臂,在其前端具有所述探针;驱动部,其从所述探针与所述试样表面接触的状态起进行将所述试样和所述探针分开的分开动作;激振部,其在所述分开动作中...
  • 本发明提供扫描型探针显微镜,其使探针与试样表面接触,利用所述探针间歇地扫描所述试样表面,其具有:悬臂,在其前端具有所述探针;驱动部,其从所述探针与所述试样表面接触的状态起进行将所述试样和所述探针分开的分开动作;激振部,其在所述分开动作中...
  • 本发明涉及离子交换层析的控制方法和离子交换层析,即使在使用单一分离柱的情况下,也能够兼顾试样成分的分离性能的提高和分析时间的缩短。离子交换层析的控制方法具备送液部、试样注入部、分离柱以及控制装置,基于特定的时间程序,改变洗脱液的混合比例...
  • 本发明提供分光光度计、分光测定方法以及程序。在对吸光度因波长区域而大幅变化的测定试样进行测定的情况下,能够高效地短时间实施S/N比和精度较高的测定。分光光度计(100)针对测定试样的波长扫描测定中的多个波长区域,根据包含在各波长区域中应...
  • 本发明涉及用于膜电极组件的检测方法和检查装置。膜电极组件的检查方法包括:第一过程,该第一过程获取膜电极组件的X射线透射图像;第二过程,该第二过程在第一过程中所获取的X射线透射图像中识别具有比周围区域的亮度低的亮度的亮度降低区域;第三过程...
  • 本发明提供一种探针显微镜以及探针显微镜的光轴调整方法。能够缩短光轴调整时间。探针显微镜(1)具有悬臂(3)、第一激光器(11)、照相机(25)、无限远光学系统(PL)、第一转动部(31)以及控制部(35)。无限远光学系统(PL)形成于悬...
  • 提供显微镜系统、试样的观察方法、试样的膜厚的校正方法、试样的复折射率的计算方法。抑制悬臂与试样发生碰撞那样的麻烦。显微镜系统(100)具有:探针单元(40),其具有悬臂(43):照相机(15);照相机位置微调机构(17),其为了调整照相...
  • 提供带电粒子束装置。通过适当地校正由于试样的旋转而引起的位置偏移而能够抑制带电粒子束的照射位置的变动的。带电粒子束装置(10)具有会聚离子束镜筒(17)、试样保持器(12)、支承试样保持器(12)的载台(31)、固定部旋转机构、载台驱动...
  • 本发明提供扫描型探针显微镜以及设定方法。提供有助于测定时间的缩短的扫描型探针显微镜以及设定方法。扫描型探针显微镜具备:移动驱动部,其使所述悬臂与所述试样至少能够在Z方向上相对地进行移动;以及控制装置,其通过对所述移动驱动部进行控制而执行...
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