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美新半导体无锡有限公司专利技术
美新半导体无锡有限公司共有194项专利
数据处理方法、数据处理装置以及传感器组件制造方法及图纸
本发明提供一种数据处理方法、数据处理装置以及传感器组件。所述数据处理方法包括:将预定频率的导频方波信号调制到MEMS传感器的谐振频率上,以形成调制导频信号;对所述MEMS传感器输出的传感信号进行解调得到多个导频点的频率响应;利用多个导频...
三轴磁传感器制造技术
本技术提供一种三轴磁传感器,其包括:各向异性磁电阻传感器,其用于感测相互正交的X轴方向和Y轴方向的外磁场以产生X轴感测电压和Y轴感测电压;水平霍尔传感器,其用于感测Z轴方向的外磁场以产生Z轴感测电压,Z轴感测电压表示感测到的外磁场Z轴方...
TMR磁传感器制造技术
本技术提供一种TMR磁传感器,其包括:耦接于电源端和输出端之间的第一桥臂;耦接于输出端和接地端之间的第二桥臂;第一桥臂和第二桥臂中的一个为阻值随磁场变化的电阻,另一个为阻值不随磁场变化的电阻,第一桥臂和第二桥臂形成于同一个衬底上,阻值随...
磁角度传感器制造技术
本发明公开了一种磁角度传感器,其包括:至少一个磁阻传感器,每个磁阻传感器被配置的生成反应磁场的角度的第一传感信号,第一传感信号的周期为
一种微机电传感器件测试装置制造方法及图纸
本发明提供一种微机电传感器件测试装置,其包括测试装置本体,测试装置本体包括:待测样品放置区,其用于放置
一种磁角度传感器测试装置制造方法及图纸
本发明提供一种磁角度传感器测试装置,其包括:第一基板;电机,其设置于第一基板下方,电机的电机轴贯穿第一基板;转轴,其设置于第一基板上方,转轴的一端部与电机轴同轴连接;磁场源,其用于产生外磁场,磁场源固定于转轴的另一端部;第二基板,其设置...
三轴磁传感器制造技术
本发明提供一种三轴磁传感器,其包括:各向异性磁电阻传感器,其用于感测相互正交的
TMR制造技术
本发明提供一种
一种制造技术
本发明提供一种
无人机姿态解算方法技术
本发明提供一种无人机姿态解算方法
OIS器件的测试系统技术方案
本实用新型提供一种OIS器件的测试系统,OIS器件包括处理器、信号输入接口、调试接口、模拟信号控制开关、模拟信号输出接口、数字通信接口,OIS器件的测试系统包括OIS测试板,OIS测试板包括:OIS器件载具,其用于安置OIS器件;一个或...
基于I2C协议访问多个从设备、接收数据的方法、计算装置制造方法及图纸
本发明提供一种基于I2C协议访问多个从设备、接收数据的方法、计算装置。所述方法包括:主设备通过I2C总线发送广播地址;主设备通过I2C总线广播寄存器基地址;主设备通过I2C总线依次广播多个数据包;多个从设备中的每个通过I2C总线接收所述...
一种单芯片六轴传感器及其加速度计制造技术
本实用新型提供一种单芯片六轴传感器及其加速度计,所述加速度计包括Z轴加速度计。所述Z轴加速度计包括:Z轴质量块,其内定义有第一空间和第二空间;锚点结构,其位于第一空间内;转轴,其位于第一空间内且平行于X/Y轴放置,转轴连接锚点结构和Z轴...
一种单芯片六轴传感器及其加速度计制造技术
本实用新型提供一种单芯片六轴传感器及其加速度计,Z轴加速度计包括:第一锚点;与第一锚点弹性相连的纵长型的旋转梁;位于旋转梁的第一侧的第一Z轴质量块,其与旋转梁相连;位于旋转梁的与第一侧相对的第二侧的第二Z轴质量块,其与旋转梁相连;位于第...
一种单芯片六轴传感器及其加速度计制造技术
本发明提供一种单芯片六轴传感器及其加速度计,Z轴加速度计包括:第一锚点;与第一锚点弹性相连的纵长型的旋转梁;位于旋转梁的第一侧的第一Z轴质量块,其与旋转梁相连;位于旋转梁的与第一侧相对的第二侧的第二Z轴质量块,其与旋转梁相连;位于第二Z...
一种集成加速度传感器和磁传感器的封装结构制造技术
本实用新型提供一种集成加速度传感器和磁传感器的封装结构,所述封装结构包括:第一半导体圆片,其正面设置有加速度传感器的驱动电路、第一金属焊盘和第一空腔;第二半导体圆片,其包括位于芯片边缘的固定结构以及位于芯片中间的可移动结构,第二半导体圆...
一种单芯片六轴传感器及其加速度计制造技术
本发明提供一种单芯片六轴传感器及其加速度计,所述加速度计包括Z轴加速度计。所述Z轴加速度计包括:Z轴质量块,其内定义有第一空间和第二空间;锚点结构,其位于第一空间内;转轴,其位于第一空间内且平行于X/Y轴放置,转轴连接锚点结构和Z轴质量...
异步FIFO存储器制造技术
本发明提供一种异步FIFO存储器,其包括:同步FIFO存储器和异步缓存器。若有写请求则将数据写入所述同步FIFO存储器,所述同步FIFO存储器具有FIFO模式和连续模式,在FIFO模式下不允许写入的数据覆盖已写入的最旧数据,在连续模式下...
光学图像稳定器的测试系统技术方案
本发明提供一种OIS器件的测试系统,OIS器件包括处理器、信号输入接口、调试接口、模拟信号控制开关、模拟信号输出接口、数字通信接口,OIS器件的测试系统包括OIS测试板,OIS测试板包括:OIS器件载具,其用于安置OIS器件;一个或多个...
晶圆级陀螺仪微机电系统器件的测试装置制造方法及图纸
本发明提供一种晶圆级陀螺仪微机电系统器件的测试装置,其包括:测试台,其用于承载待测试的晶圆,所述晶圆包括若干陀螺仪MEMS器件;针卡单元,其包括植针部和信号采集单元,所述植针部包括若干探针,所述探针和所述MEMS陀螺仪上的信号焊盘可控制...
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