一种用于检验电路的系统，这些电路包含彼此相互间隔开的多个导体，该系统包含：一电压驱动器，运行以对该多个导体中的数个导体施加不同电压，这些导体彼此在空间上邻近；一传感器，运行以感测由该系统相对于这些电路所界定的一测试区的至少一个特性，该传...

本实用新型提供一种用于检验显示面板的检验装置，其包括：a.一个光学系统，包括一个照相机、一个镜头及一个缺陷复检与对准光学系统，其中该照相机用以获得该显示面板上的至少一个电路的影像；b.一个卡盘，支撑该显示面板；c.一个探针块，包括多个探...

本发明提供一种使用一水溶液及一有机溶液来制备具有多个细长液晶小滴的向列曲线排列相（NCAP）液晶层的方法，其中将水除去且随后将有机溶剂除去。本发明也提供一种使用本发明NCAP液晶层的调变器。

一种用于检验受试装置的探针系统，以对受试装置进行电性检验。所述系统包括：存储架；探针杆门架总成；探针总成支架，可附装至探针杆门架总成；探针总成，可附装至探针总成支架，并用以与受试装置进行电性配合；以及机械手系统，用于从存储架拾取探针总成...

本发明公开用于在防止大规模面板损坏的同时保持用于面板检测（即，像素及线缺陷探测）的可靠和可再现状态的技术。一种实施形式涉及到一种用于识别电子电路中的缺陷的装置，所述装置包含：电路驱动模块，用以对所述电子电路施加电性测试信号；缺陷探测模块...

本实用新型提供一种用于形成隐埋于一或多个滤色片下的物体的图像的光学装置。所述装置包括：照明光源，用于产生照明光，所述照明光源包括以不同波长工作的至少三个激光发射器，所述照明光是由所述至少三个光发射器所产生的光信号的组合；电子控制模块，耦...

本发明提供一种用于检测电路的系统，其包括：缺陷探测子系统；以及附加子系统，所述附加子系统可在除检测期间以外的时间内工作，用于对接受检测的电路施加时变电压并用于感测所述电路中各种不同潜在缺陷位置处的电性状态的差异。

本发明提供一种用于达成一受试装置(device?under?test)的检验的探针系统(probe?system)。该系统包含：一储存架(storage?rack)；一探针杆式门架总成(probe?bar?gantry?assembly...